Emissionsspektrometrische elementbestimmung im nano- und picogramm-bereich nach verflüchtigung der elemente in mit mikrowellen induzierte gasplasmen—IExtrem nachweisstarke quecksilberbestimmung in wässrigen lösungen, luft, organischen und anorganischen matrices

G. Kaiser, D. Göt, P. Schoch, G. Tölg

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DOI
10.1016/0039-9140(75)80187-1
Published
1975-10
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Talanta
Publisher
Elsevier BV
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RIS

TY  - JOUR
TI  - Emissionsspektrometrische elementbestimmung im nano- und picogramm-bereich nach verflüchtigung der elemente in mit mikrowellen induzierte gasplasmen—IExtrem nachweisstarke quecksilberbestimmung in wässrigen lösungen, luft, organischen und anorganischen matrices
AU  - G. Kaiser
AU  - D. Göt
AU  - P. Schoch
AU  - G. Tölg
PY  - 1975
JO  - Talanta
DO  - 10.1016/0039-9140(75)80187-1
UR  - https://doi.org/10.1016/0039-9140(75)80187-1
ER  - 

APA

Kaiser, G., Göt, D., Schoch, P., & Tölg, G. (1975). Emissionsspektrometrische elementbestimmung im nano- und picogramm-bereich nach verflüchtigung der elemente in mit mikrowellen induzierte gasplasmen—IExtrem nachweisstarke quecksilberbestimmung in wässrigen lösungen, luft, organischen und anorganischen matrices. Talanta. https://doi.org/10.1016/0039-9140(75)80187-1

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