Analyse dünner schichten von tetramethylendithiocarbamidaten auf metalloberflächen mittels f.m.i.r.-spektroskopie im infraroten bereich

R. Kellner

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DOI
10.1016/s0003-2670(01)85180-1
Published
1974-06
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Analytica Chimica Acta
Publisher
Elsevier BV
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RIS

TY  - JOUR
TI  - Analyse dünner schichten von tetramethylendithiocarbamidaten auf metalloberflächen mittels f.m.i.r.-spektroskopie im infraroten bereich
AU  - R. Kellner
PY  - 1974
JO  - Analytica Chimica Acta
DO  - 10.1016/s0003-2670(01)85180-1
UR  - https://doi.org/10.1016/s0003-2670(01)85180-1
ER  - 

APA

Kellner, R. (1974). Analyse dünner schichten von tetramethylendithiocarbamidaten auf metalloberflächen mittels f.m.i.r.-spektroskopie im infraroten bereich. Analytica Chimica Acta. https://doi.org/10.1016/s0003-2670(01)85180-1

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