Modèle de croissance de fiabilité pour des systèmes réparables en essais de développement

K. Le Son, L. Saintis, F. Guerin, T. Le Fevre, M. Kurela

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DOI
10.4267/2042/56156
Published
2015-01
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Congrès Lambda Mu 19 de Maîtrise des Risques et Sûreté de Fonctionnement
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IMdR
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TY  - JOUR
TI  - Modèle de croissance de fiabilité pour des systèmes réparables en essais de développement
AU  - K. Le Son
AU  - L. Saintis
AU  - F. Guerin
AU  - T. Le Fevre
AU  - M. Kurela
PY  - 2015
JO  - Congrès Lambda Mu 19 de Maîtrise des Risques et Sûreté de Fonctionnement
DO  - 10.4267/2042/56156
UR  - https://doi.org/10.4267/2042/56156
ER  - 

APA

Son, K. L., Saintis, L., Guerin, F., Fevre, T. L., & Kurela, M. (2015). Modèle de croissance de fiabilité pour des systèmes réparables en essais de développement. Congrès Lambda Mu 19 de Maîtrise des Risques et Sûreté de Fonctionnement. https://doi.org/10.4267/2042/56156

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